1.サービスの概要
独立行政法人工業所有権情報・研修館では、政府の知的財産戦略本部が策定した知的財産推進計画2006に沿って、公報閲覧室（特許庁本庁舎2Ｆ）において特許審査官と同等のサーチ端末（16台）による閲覧サービスを2007年1月9日（火）から開始し、特許審査官と同じスペックの端末を用いて、未公開情報を除く国内外特許文献のサーチを快適なレスポンスで行えるサービスを提供して参りました。
さらに、平成21年6月19日（金）からは公報閲覧室の特許審査官端末を40台に増設致しました。
主な検索機能は以下のとおりです。
(1) クラスタ検索（特許文献検索）
国内外の特許文献を一つの検索画面で主に次の検索機能を用いて検索することができます。
・Fターム検索 ・FI検索 ・全文（テキスト）検索 ・ＥＣＬＡ検索
・フリーワード検索（審査官FW）
(2) ＩＣＩＲＥＰＡＴ（合金）検索
国内特許文献の合金検索ツール
(3) 文献番号検索
(4) ＰＭＧＳ（Patent Map Guidance System）
(5) その他（テキスト近傍検索、ヒットワード反転等）の機能があります。
2.特許審査官端末ご利用にあたって
「特許審査官端末」は、特許庁のセキュリティポリシーを遵守する必要から以下の手続をとらせていただきます。
(1) 「特許審査官端末利用規約」［PDF:13KB］（平成21年8月1日版（名称変更に伴う改訂作業中））をご承諾いただきます。
(2) 閲覧室にお越しになった際に 「特許審査官端末利用申請書」［PDF:155KB］を提出していただきます。
(3) 申請者ご本人の氏名等を確認させていただくために身分証明書を提示していただきます。
（身分証明書等の例）
運転免許証、パスポート、健康保険証、社員証、学生証等
(4) 利用希望者が設置台数を超えている場合はご利用時間を90分間に制限させていただく場合があります。
3.問い合わせ・送付先
（独）工業所有権情報・研修館 情報提供部
電話番号：03−3581−1101 （内線）3812
メールアドレス：PA8100@inpit.jpo.go.jp
・公報閲覧室の利用案内
その他ご不明な点は、情報提供部公報閲覧担当にお問い合わせください。